简介
线上DefectCase的处理在很⼤程度上依赖⼯程师的经验，数据的捞取和整理也需投⼊⼤量的人力。bv1946伟德官网DE-iCASE深度融合AI模型，结合Case知识库，可实现异常状态的⾃动溯源。DE-iCASE提供了告警，分析，追踪，归档的全流程服务，Case匹配耗时仅为秒级。
DE-iCASE
半导体缺陷异常智能化诊断系统
简介
DE-Alarm系统是⼴⽴微为提升半导体制造质量⽽设计的关键解决⽅案。系统能 Real Time / Near Real Time自动报警 WAT、CP、FT、SLT的良率、参数异常和质量问题，可与客户ERP/MES系统对接处置Lot流程, 确保问题高效追溯，缺陷产品在出货前进行拦截，助于减少退货、换货、报废、返工和时间成本，从而节省数百万美元。
DE-Alarm 能够最大限度地减少客户投诉，保护品牌形象，并增强客户信任，而信任正是驱动业务成功的关键。
设计优势
-(2).png)
优势
|
准确及时的检测和预防
|
稳定⾼效的报警引擎
|
架构
.png)
功能模块
Alarm System
同步MES
独立告警
诊断历史Lot
Tracking System
持续跟踪异常Lot
支持工程师的日常交接
Analysis System
丰富的交互式图表
全面分析Lot Process History
自动汇总异常信号
秒级匹配历史Case
Case Library
灵活的Case Search
详尽的Case知识库
持续的Impact跟踪
长期的Case Summary
Defect Notice
大模型知识问答
主要功能
全面的报警规则设置
各类Yield/Bin/Parametric统计规则 (例如：Site or Zonal Gap, Wafer Pattern…)
各种数据质量验证规则 (例如：Duplicated ECID, Piggy Back, Map Shift,...)
确保报警规则的有效性和准确性
审批流程清晰，可视化呈现
模拟警报触发的故障
优化规则标准，避免报警检测失败
标准过松导致监控失败，标准过严导致误报过多
快速分析报警结果，及时采取措施
⽣成总结报告，通过查看报警的整体情况，确定是否存在聚集现象
查看报警触发看板，识别根本原因
