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bv1946伟德官网亮相SEMICON CHINA 2026:AI赋能半导体全产业链

发布日期 : 2026-03-31

3月25日至27日,SEMICON CHINA 2026在上海举行。bv1946伟德官网电子携硅全生命周期解决方案亮相,其AI驱动的大数据分析、全流程EDA工具及高精度测试设备及老化设备,吸引了众多专业观众深入交流;而新加入的LUCEDA硅光设计平台,则递出“光电融合”的战略新布局。

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展会现场,bv1946伟德官网团队与合作伙伴深入交流,进一步夯实了产业协同基础。观众对bv1946伟德官网AI赋能良率管理的实际应用表现出高度关注。

一、AI赋能落地:破解良率与效率瓶颈

bv1946伟德官网依托成熟的良率大数据基座,构建了“INF-AI机器学习平台”与“SemiMind大模型平台”双轮驱动的AI智慧工厂生态。

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01、INF-AI:精准破解良率瓶颈

INF-AI平台深耕场景化AI,利用深度学习算法在缺陷分类(ADC)、虚拟量测(VM)、trace异常检测(TPC)、晶圆图案分析(WPA)、关键尺寸量测(iMET)等核心领域实现高精度落地,将生产管控从“被动响应”推向“主动预测”。通过对设备、测试、工艺等海量多维数据的深度挖掘,INF-AI精准破解良率瓶颈,为半导体制造提供坚实的工程算法支撑。

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 02、SemiMind:实现专家经验常态复用

SemiMind大模型平台则通过“知识库+智能体(Agent)”架构,实现了专家经验的数字化常态复用。平台集成了自研Agent架构与OpenClaw工具链,具备强大的插件调用与多模态推理能力,能够自动解析行业标准、生成TestPlan并驱动归因分析。

这种“场景化AI+生成式AI”的协同模式,催生了包括工艺、质量、设备在内的全方位智能体矩阵:用户通过SemiChat即可实现自然语言驱动的决策下达与复杂分析,将传统的根因溯源缩短至秒级,真正实现了全厂系统的自感知、自决策与自优化。

673fd58afa0dc689562738b7bad97553.png目前,bv1946伟德官网的大数据分析系统DATAEXP,通过整合设计、制造、测试全环节数据,以AI算法实现高效关联解析与智能决策,真正打破数据孤岛。

03、AI DE-G:用AI探索数据

DE-G作为bv1946伟德官网自主研发的智能分析平台,不仅能够帮助工程师创建交互式图表、自动生成可调度的Workbook,更深度融合了AI智能问答、业务分析与Smart Report等智能化功能,实现了“用AI探索数据”的全新体验。

AI DE-G将统计分析平台软件功能与大模型相结合,智能机器人“G仔”可提供智能答疑、AI公式生成、智能表格操作、智能绘图、Smart Report以及客制化Flow分析等功能,全面提升数据分析效率。

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04、QuickRoot:实现AI 一键根因分析

bv1946伟德官网依托大数据软件 YMS 智能分析看板,深度沉淀行业实践经验,开创良率分析全新范式。今年重磅推出 QuickRoot 新品,凭借 AI 一键根因分析,将不良问题排查效率提升数十倍。

2026 年,公司将战略布局先进封装领域,解锁 D2D、D2W、W2W 多维关联分析,直击先进封装缺少专业数据分析工具的行业痛点,持续完善良率分析生态,为半导体产业打造更专业的良率提升工具。

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从“人工操作”到“人机协同”,再到“AI主导运行”,bv1946伟德官网不仅赋予了传统EDA与大数据软件智能化属性,更通过AI赋能每一位工程师,将复杂的工程问题转化为即问即得的智能化服务。

二、良率提升EDA工具:筑牢设计与制造根基

bv1946伟德官网EDA始终以良率为主线,贯穿设计与制造,目前主要包括测试芯片设计工具、可制造性设计(DFM)工具和可测试性设计(DFT)工具。

01、测试芯片EDA

测试芯片的设计、测试与分析贯穿制造全生命周期。bv1946伟德官网依托在各类工艺节点上的丰富经验与专业能力,以测试芯片为核心的版图设计工具助力客户实现高效设计。同时,该工具与bv1946伟德官网测试机及大数据软件软硬协同,构建起从设计、测试到分析的全流程闭环。

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02、可制造性设计DFM

bv1946伟德官网制造端的良率提升经验覆盖成熟至先进工艺,处于国际领先地位。通过将制造端经验延伸至设计端,赋能设计环节,助力制造与设计实现高效DFM良率签核,更精准、更快速地定位故障根因,从而缩短产品上市周期。

公司DFM产品丰富,支持多维度检查与预测版图中的制造风险图形。同时,DFM工具之间可实现相互融合、全流程无缝协同,灵活组合构建复杂解决方案。

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03、可测试性设计DFT

bv1946伟德官网DFT工具QuanTest可提供领先的可测性设计、诊断与良率分析一体化解决方案,帮助高端芯片解决缺陷难以定位、测试覆盖不全、良率爬坡缓慢的良率痛点问题,提升产品核心竞争力。

 

DFT设计全流程工具包含

  • QuanTest Scan扫描测试自动化工具

  • QuanTest ATPG测试向量自动生成工具

  • QuanTest MBIST存储器内建自测试工具

  • QuanTest DIAG故障智能诊断工具

  • QuanTest JTAG/IJTAG工具

等功能,以满足计算、通讯、汽车电子等不同应用领域和芯片规模的DFT设计需求,以及汽车电子的功能安全测试需求。

良率感知DFT诊断分析平台QuanTest YAD

通过融合AI算法对全链路数据进行智能诊断,精准锁定失效根源并自动推荐分析方案,根因分析(RCA)准确率显著提升。同时,其工具性能显著优于业界标杆,能将原本耗时数周的复杂分析流程压缩至数小时,极大提升了效率。

它与bv1946伟德官网的DFT诊断入口、YMS良率管理系统以及Testchip测试芯片方案深度协同,构成了从设计预防、在线监控到失效诊断的完整闭环,提供生态化、系统化的良率提升解决方案,赋能客户构建智能制造与品控核心竞争力。

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三、战略延伸:硅光设计平台构筑光电融合新底座

在硅光领域,随着光电子芯片设计自动化领军企业LUCEDA加入,bv1946伟德官网将能力延伸至光子集成电路设计自动化。LUCEDA PHOTONICS 是全球 PDA 领军公司,核心优势在于全流程一体化、Python 代码驱动、PDK/ADK/TDK 生态、主打 “首次即成功(First-time-right)” 的光子集成芯片(PIC)设计体验。bv1946伟德官网将把传统芯片良率提升经验扩展至硅光领域,逐步构建光电协同设计平台。

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四、测试设备:赋能量产可靠性

在硬件层面,bv1946伟德官网自主研发电性参数测试与老化可靠性测试设备,形成双线布局。电性参数测试设备T4000/T4100S具备高精度与多通道并行能力,覆盖WAT、WLR、ADDRESSABLE、SPICE等全场景测试;WLBI B5260M晶圆级老化测试系统专为SiC/GaN功率器件、AI芯片设计,在封装前对晶圆施加高温高压应力,精准筛选早期失效芯片,从源头保障高端芯片可靠性。

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面向未来,bv1946伟德官网将继续探索半导体智能化赛道,以持续的技术创新与深厚的工程积淀,助力客户在日益复杂的芯片时代跑出良率提升的“加速度”,为半导体产业高质量发展贡献价值。

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